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直流系統(tǒng)故障測(cè)試儀

更新時(shí)間:2024-07-19

訪問(wèn)量:1211

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

生產(chǎn)地址:山東省青島市平度南京路27號(hào)

簡(jiǎn)要描述:
直流系統(tǒng)故障測(cè)試儀功能簡(jiǎn)介,儀表由信號(hào)發(fā)生器、故障檢測(cè)器和信號(hào)采集器(鉗表)三部分組成,信號(hào)發(fā)生器與直流系統(tǒng)正負(fù)母線和地相連,當(dāng)直流系統(tǒng)出現(xiàn)接地故障后,它會(huì)自動(dòng)產(chǎn)生一個(gè)低頻小信號(hào),故障檢測(cè)器與鉗表立于信號(hào)發(fā)生器,故障檢測(cè)器與鉗表之間使用連接線相連
品牌其他品牌產(chǎn)地類別國(guó)產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域電氣

1、HN1019A直流接地故障查找儀直流系統(tǒng)故障測(cè)試儀
直流系統(tǒng)故障測(cè)試儀 

    該儀表可以快速查找直流系統(tǒng)間接接地、非金屬接地、環(huán)路接地、正負(fù)同時(shí)接地、正負(fù)平衡接地、多點(diǎn)接地等疑難故障,并且還能準(zhǔn)確的顯示系統(tǒng)電壓、對(duì)地電壓、接地阻值,真正解決了運(yùn)行及檢修人員。

儀表的構(gòu)成:典型的電壓為7.5V-13.5V,這取決于生產(chǎn)廠商的產(chǎn)品。環(huán)路隔離器的輸出是電流隔離的,它是輸入電流的一個(gè)鏡象反應(yīng)。伴生在輸出端的電壓比輸入端大大減小了,為7.5V左右。這就決定了它有350Q環(huán)路負(fù)載的能力,這種有限的環(huán)路驅(qū)動(dòng)能力是環(huán)路隔離器的主要限制。兩線變送器兩線隔離變送器和環(huán)路隔離器有類似隔離功能,但增加了一些高級(jí)功能,它們可提供信號(hào)調(diào)節(jié)功能以適應(yīng)輸入,如熱電偶、頻率、RT應(yīng)力、直流電流以及其它過(guò)程輸入。

    該儀表由信號(hào)發(fā)生器、故障檢測(cè)器和信號(hào)采集器(鉗表)三部分組成,信號(hào)發(fā)生器與直流系統(tǒng)正負(fù)母線和地相連,當(dāng)直流系統(tǒng)出現(xiàn)接地故障后,它會(huì)自動(dòng)產(chǎn)生一個(gè)低頻小信號(hào),故障檢測(cè)器與鉗表立于信號(hào)發(fā)生器,故障檢測(cè)器與鉗表之間使用連接線相連,通過(guò)對(duì)待檢測(cè)支路漏電流信號(hào)的采集、分析,從而判斷出該支路的絕緣情況。任何一起在使用過(guò)程中都可能操作失誤或者使用方法不當(dāng),造成測(cè)試數(shù)據(jù)錯(cuò)誤,儀器的保費(fèi)損害,為了增加使用的壽命和儀器的度我們應(yīng)該從使用把關(guān)。不損壞試件材質(zhì)、結(jié)構(gòu)無(wú)損檢測(cè)的特點(diǎn)就是能在不損壞試件材質(zhì)、結(jié)構(gòu)的前提下進(jìn)行檢測(cè),所以實(shí)施無(wú)損檢測(cè)后,產(chǎn)品的檢查率可以達(dá)到。并不是所有需要測(cè)試的項(xiàng)目和指標(biāo)都能進(jìn)行無(wú)損檢測(cè),無(wú)損檢測(cè)技術(shù)也有自身的局限性。某些試驗(yàn)只能采用破壞性試驗(yàn),在目前無(wú)損檢測(cè)還不能代替破壞性檢測(cè)。 

直流系統(tǒng)故障測(cè)試儀

主要特點(diǎn)


   1) 高度采樣鉗表

    該儀表采用了高分辨率(0. 1mA)信號(hào)采樣直流鉗表,能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)多點(diǎn)接地,高阻接地點(diǎn)的定位。

   2) 接地點(diǎn)方向顯示

    該儀表具有接地點(diǎn)方向顯示功能,包括:液晶屏顯示、指示燈指示、語(yǔ)音提示三種方向顯示方式,可以快速的處理復(fù)雜支路或環(huán)路中接地點(diǎn)的定位。X射線探測(cè)器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來(lái)得到待測(cè)元素的特征信息。手持式光譜儀的應(yīng)用非常廣泛,涉及:電力、石化、考古、金屬加工、壓力容器、廢舊物資回收、航天、地質(zhì)勘探、礦山測(cè)繪、開(kāi)采、礦石分選、礦產(chǎn)貿(mào)易、金屬冶煉、環(huán)境監(jiān)測(cè)、土壤監(jiān)測(cè)、玩具、服裝、鞋帽、電子產(chǎn)品等眾多領(lǐng)域。便宜、快速的手持式拉曼光譜儀正在迅速成為原料藥采購(gòu)質(zhì)量控制的有力工具。拉曼光譜儀是快速鑒定未知化合物的有力工具,檢測(cè)高純度化學(xué)品、成分驗(yàn)證和高分子材料的表征。

   3) 具有絕緣指數(shù)顯示功能

    絕緣指數(shù)是為分析待測(cè)支路絕緣程度而引入說(shuō)法,以0—100的數(shù)字形式來(lái)反映被測(cè)支路的絕緣程度,數(shù)字越大表示絕緣越差,該指數(shù)結(jié)合高度鉗表非常有利于多點(diǎn)接地與高阻接地的檢測(cè)。

  直流系統(tǒng)故障測(cè)試儀 4) 具有波形顯示功能

    所謂波形顯示,即在檢測(cè)過(guò)程中檢測(cè)器所搜索到的信號(hào)發(fā)生器的波形,其在查找接地過(guò)程中有非常重要的作用,合理利用檢測(cè)器中的波形顯示,可以大幅度的提升設(shè)備的檢測(cè)范圍與檢測(cè)度以判斷的準(zhǔn)確度。

   5) 多量程轉(zhuǎn)換功能X射線探測(cè)器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來(lái)得到待測(cè)元素的特征信息。手持式光譜儀的應(yīng)用非常廣泛,涉及:電力、石化、考古、金屬加工、壓力容器、廢舊物資回收、航天、地質(zhì)勘探、礦山測(cè)繪、開(kāi)采、礦石分選、礦產(chǎn)貿(mào)易、金屬冶煉、環(huán)境監(jiān)測(cè)、土壤監(jiān)測(cè)、玩具、服裝、鞋帽、電子產(chǎn)品等眾多領(lǐng)域。便宜、快速的手持式拉曼光譜儀正在迅速成為原料藥采購(gòu)質(zhì)量控制的有力工具。拉曼光譜儀是快速鑒定未知化合物的有力工具,檢測(cè)高純度化學(xué)品、成分驗(yàn)證和高分子材料的表征。

    儀表具有多量程轉(zhuǎn)換功能,在測(cè)試過(guò)程可以轉(zhuǎn)換不同量程,可以大幅度的提升設(shè)備的檢測(cè)范圍與檢測(cè)度以判斷的準(zhǔn)確度。

   6) 操作簡(jiǎn)單,使用方便、快速

    使用時(shí)只需將鉗表鉗住待測(cè)支路,按一下工作按鍵,3~6S即可完成一條支路的檢測(cè)。

   7) 信號(hào)發(fā)生器與檢測(cè)器不受距離限制2015-2020年伺服市場(chǎng)規(guī)模伺服系統(tǒng)是以變頻技術(shù)為基礎(chǔ)發(fā)展起來(lái)的產(chǎn)品,是一種以機(jī)械位置或角度作為控制對(duì)象的自動(dòng)控制系統(tǒng)。伺服系統(tǒng)除了可以進(jìn)行速度與轉(zhuǎn)矩控制外,還可以進(jìn)行、快速、穩(wěn)定的位置控制。伺服系統(tǒng)工作方式目前應(yīng)用為廣泛的電氣伺服系統(tǒng),通常伺服系統(tǒng)包括伺服驅(qū)動(dòng)器和伺服電機(jī),以及伺服反饋裝置。伺服驅(qū)動(dòng)器屬于自動(dòng)化控制系統(tǒng)中的驅(qū)動(dòng)層,伺服電機(jī)屬于執(zhí)行層。伺服驅(qū)動(dòng)器和伺服電機(jī)如今已經(jīng)成為智能制造的*品。

    在復(fù)雜的直流系統(tǒng)中,信號(hào)發(fā)生器接入點(diǎn)可能與接地查找點(diǎn)有著很長(zhǎng)的一段距離,不過(guò)檢測(cè)器并不受此距離的限制,可以在同一個(gè)系統(tǒng)中的任何一點(diǎn)進(jìn)行查找。

   8) 運(yùn)行安全、可靠

信號(hào)發(fā)生器是需要接入直流系統(tǒng)之中的,這就對(duì)設(shè)備的安全性與根據(jù)直流系統(tǒng)現(xiàn)場(chǎng)的實(shí)際情況,信號(hào)發(fā)生器可智能式產(chǎn)生1.0~5.0mA的信號(hào)電流,且大功率小于0.2W,適用于各類直流系統(tǒng),對(duì)直流系統(tǒng)的安全運(yùn)行、可靠運(yùn)行提供了保障。


直流系統(tǒng)故障測(cè)試儀半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造,晶圓測(cè)試,芯片封裝和封裝后測(cè)試組成,晶圓制造和芯片封裝討論較多,而測(cè)試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識(shí)經(jīng)常被邊緣化,下面集中介紹集成電路芯片測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容,主要集中在WAT,CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、制造、封裝流程示意圖WAT(WaferAcceptanceTest)測(cè)試,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),對(duì)Wafer劃片槽(ScribeLine)測(cè)試鍵(TestKey)的測(cè)試,通過(guò)電性參數(shù)來(lái)監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定,CMOS的電容,電阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer從Fab廠出貨到封測(cè)廠的依據(jù),測(cè)試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT測(cè)試機(jī)臺(tái)上,由WATRecipe自動(dòng)控制測(cè)試位置和內(nèi)容,測(cè)完某條TestKey后,ProbeCard會(huì)自動(dòng)移到下一條TestKey,直到整片Wafer測(cè)試完成。便攜式電子產(chǎn)品與我們的生活日益密切,使用可穿戴設(shè)備已經(jīng)成為消費(fèi)新潮流。在市場(chǎng)日益顯著增長(zhǎng)的同時(shí),如何提高電量計(jì)的準(zhǔn)確性成為了亟待解決的問(wèn)題。傳統(tǒng)內(nèi)置于可穿戴設(shè)備的電量計(jì)可提供的度約±8%。因此如果指示器顯示剩余電量為10%,那么實(shí)際值可能低至2%。用戶往往以為設(shè)備可以再工作一段時(shí)間,而系統(tǒng)卻突然意外關(guān)閉,丟失未保存的關(guān)鍵數(shù)據(jù)和工作,為用戶的使用帶來(lái)不便。試想如果這種故障發(fā)生在環(huán)境,還有可能危及生命。

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